德國(guó)菲希爾涂層測(cè)厚儀DMP40新型雙功能 菲希爾公司授權(quán)測(cè)厚儀DMP40雙功能測(cè)厚儀
查看詳細(xì)介紹Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測(cè)厚儀 穩(wěn)健性、易操作性和數(shù)據(jù)導(dǎo)出方面樹(shù)立了新標(biāo)準(zhǔn),從而使我們生產(chǎn)中的日常質(zhì)量控制更加容易。
查看詳細(xì)介紹泰勒Surtronic S128粗糙度儀的功能 Surtronic S-128粗糙度儀是S100系列里較為突出的一款,性能會(huì)比Surtronic S116更好,功能更強(qiáng)大
查看詳細(xì)介紹KSCAN 20三維掃描儀六大特色功能 思看科技是國(guó)內(nèi)較早從事三維掃描儀、3D掃描儀、三維激光掃描儀、手持式三維掃描儀、彩色三維掃描儀、抄數(shù)機(jī)等三維檢測(cè)設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售的企業(yè),客戶(hù)遍布**,在眾多行業(yè)專(zhuān)家、合作伙伴、媒體人士的見(jiàn)證下,思看重磅發(fā)布了融合多項(xiàng)行業(yè)**技術(shù)的全新產(chǎn)品——KSCAN復(fù)合式三維掃描儀。
查看詳細(xì)介紹日本Kett LZ-373雙功能膜厚計(jì) 373系列作為300J/330J/370系列的升級(jí)版,它具有更準(zhǔn)確、更廣泛的用途,所增設(shè)的多種新功能也更容易得到廣大用戶(hù)的認(rèn)可和接受,在性?xún)r(jià)比上更顯優(yōu)勢(shì);LZ-373是一款雙功能涂層測(cè)厚儀,可以測(cè)量磁性金屬基材和非磁性金屬基材上的涂層厚度
查看詳細(xì)介紹WAVELINE W5與霍梅爾t500粗糙度儀功能對(duì)比 業(yè)納霍梅爾Waveline系列粗糙度測(cè)試儀是用于移動(dòng)式粗糙度測(cè)量的測(cè)量?jī)x器。業(yè)納Waveline系列表面粗糙度測(cè)試儀重量輕,體積小,堅(jiān)固耐用,并具有長(zhǎng)壽命的電池組。業(yè)納Waveline系列移動(dòng)測(cè)量?jī)x以其可靠且高度準(zhǔn)確的粗糙度測(cè)量而著稱(chēng)。
查看詳細(xì)介紹菲希爾(Fischer)MMS PC2多功能模塊測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。它既可以用來(lái)進(jìn)行手動(dòng)的樣品來(lái)料檢驗(yàn),也可以用于過(guò)程控制和對(duì)產(chǎn)品線進(jìn)行24小時(shí)地監(jiān)控。
查看詳細(xì)介紹KSCAN思看三維掃描儀三點(diǎn)優(yōu)勢(shì)六大特色功能 KSCAN復(fù)合式三維掃描儀,同時(shí)具備全局?jǐn)z影測(cè)量、紅色激光快速掃描和藍(lán)色激光精細(xì)掃描三種模式,不僅具有遠(yuǎn)超其它激光三維掃描儀的細(xì)節(jié)獲取能力,同時(shí)內(nèi)置的攝影測(cè)量系統(tǒng)模塊,大大的擴(kuò)展了儀器所支持的大掃描尺寸和掃描精度。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)BYK4448 三角度光澤儀帶膜厚測(cè)量功能 微型光澤儀器系列測(cè)量?jī)x器是用于測(cè)量油漆涂料,塑料,陶瓷和金屬表面的光澤。微型三角度μ附帶測(cè)量鐵基(Fe)和非鐵基(NFe)上的油漆涂層厚度。光線以一定的角度直射到樣品的表面,通過(guò)光電感應(yīng)計(jì)(反射計(jì))測(cè)量反射光。
查看詳細(xì)介紹涂鍍層厚度/電導(dǎo)率/孔銅等多功能測(cè)試儀 使用一臺(tái)儀器就可同時(shí)完成鍍層厚度測(cè)量和材料性能測(cè)試。FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測(cè)量數(shù)據(jù)處理能力,是一臺(tái)結(jié)構(gòu)小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測(cè)量系統(tǒng)。可以測(cè)涂鍍層厚度,非鐵磁性金屬的電導(dǎo)率測(cè)量,多層板上表面銅鍍層的厚度等。
查看詳細(xì)介紹MiniTest2500 德國(guó)EPK工業(yè)防腐涂層測(cè)厚儀 請(qǐng)選擇合適的主機(jī)型號(hào)極探頭型號(hào),主機(jī)型號(hào)包括:MiniTest 2500和MiniTest 4500,探頭型號(hào)種類(lèi)型號(hào)眾多,不一一列舉,如需了解兩款主機(jī)MiniTest 2500和MiniTest 4500的區(qū)別及功能對(duì)比,或完整的探頭選型表,請(qǐng)?jiān)诰€留言。
查看詳細(xì)介紹微電腦多功能電解測(cè)厚儀 CMS2 /CMS2 STEP 一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)包括COULOSCOPE®CMS2或CMS2STEP和一個(gè)有測(cè)量槽的支架(例如:STEP測(cè)量槽) 。各種測(cè)量臺(tái)設(shè)計(jì)適合不同的應(yīng)用。 CMS2可以測(cè)量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度,包括多鍍層結(jié)構(gòu); 在多層鎳的量監(jiān)控中用于對(duì)鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化STEP測(cè)試。
查看詳細(xì)介紹MiniTest1100/2100/3100/4100功能一覽表 MiniTest 1100-4100系列涂層測(cè)厚儀具有多種用途的耐磨探頭可供選擇,具有高精確度和重復(fù)性,和儲(chǔ)存讀數(shù)文件的功能,具體功能根據(jù)主機(jī)型號(hào)不同而有所差異,MiniTest系列儀器是微型的無(wú)損覆層厚度測(cè)量?jī)x器。MiniTest 1100-4100系列涂層測(cè)厚儀共有四種主機(jī): 1100、2100、3100和4100,四種主機(jī)各自
查看詳細(xì)介紹涂鍍層測(cè)厚儀DELTASCOPE FMP30功能 ISOSCOPE@ FMP30配 合FTA3.3探頭-測(cè)量輕合金邊緣,DELTASCOPE8 FMP30配合雙觸點(diǎn)探頭V7FKB4一測(cè)量卡車(chē)剎車(chē)盤(pán),DUALSCOPE@ FMP40配合FD13探頭一測(cè)量各種小零件
查看詳細(xì)介紹三豐粗糙度儀sj410功能對(duì)比 1.可實(shí)現(xiàn)有軌測(cè)量與無(wú)軌測(cè)量的轉(zhuǎn)換 A.無(wú)軌測(cè)量無(wú)軌測(cè)量以保證了驅(qū)動(dòng)部直線度的導(dǎo)軌為基準(zhǔn),通過(guò)移動(dòng)檢出器,測(cè)針的上下變位量檢測(cè)出表面的凹凸,實(shí)現(xiàn)對(duì)表面粗糙度、波度以及細(xì)微的階差形狀的測(cè)量 B.有軌測(cè)量有軌測(cè)量對(duì)測(cè)量工件表面的較大波形進(jìn)行追蹤,從而搖動(dòng)帶有導(dǎo)軌的檢出器。此時(shí),將以導(dǎo)軌為基準(zhǔn)的測(cè)針的上下變位量作為表面的凹凸進(jìn)行檢出。
查看詳細(xì)介紹多功能電解質(zhì)測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2 作為測(cè)量鍍層厚度*簡(jiǎn)單的方法之-一,庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu),當(dāng) 允許破壞性測(cè)量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。強(qiáng)大并且用戶(hù)友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn)
查看詳細(xì)介紹cms2-step微電腦多功能電解測(cè)厚儀 庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易行的電化學(xué)分析方法,可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量,但它也適用于檢測(cè)印刷電路板上剩余純錫的厚度。
查看詳細(xì)介紹minitest600bfn2雙功能測(cè)厚儀epk理想選擇 德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司全新的MiniTest600系列涂層測(cè)厚儀 MiniTest600B系列MiniTest600BFN2兩用涂層測(cè)厚儀特點(diǎn) 耐用、經(jīng)濟(jì)的統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀
查看詳細(xì)介紹費(fèi)希爾FischerScope MMS 多功能測(cè)厚儀 ??FISCHERSCOPE MMS可在各個(gè)地方使用質(zhì)量是重中之重:在進(jìn)貨檢驗(yàn)中,在后期檢驗(yàn)中,在進(jìn)行中的生產(chǎn)過(guò)程中進(jìn)行抽樣檢查或常規(guī)檢查。各個(gè)行業(yè)都是如此。
查看詳細(xì)介紹多能測(cè)厚儀FischerScope MMS PC2德國(guó)菲希爾 適合于無(wú)損,高精度的鍍層厚度測(cè)量及材料測(cè)試。
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