德國菲希爾代理MMS Automation自動化測厚儀 模塊化的測量系統FISCHERSCOPE MMS Automation是自動化在線測量涂層厚度和材料測試的正確解決方案。由于接口的標準化,它可以快速集成到質量管理系統和自動化生產過程中。
查看詳細介紹德國菲希爾ump100超聲波壁厚測厚儀 篤摯儀器(上海)有限公司代理供應的德國菲希爾Helmut Fischer UMP150是一款高精度的超聲波測厚儀,用于準確地、無損地測量壁厚。它采用單晶探頭和高頻方波發生(30MHz),精度高達1μm。測量范圍高達0.1-500mm,且提供多種測量模式。
查看詳細介紹德國菲希爾fmp100+fgab1.3測厚儀 篤摯儀器是德國菲希爾Fischer合作多年的正規代理商,專業代理供應德國Fischer便攜式涂鍍層測厚儀,鍍銅測厚儀,庫侖測厚儀,鐵素體含量檢測儀器,電導率儀,防腐涂層測厚儀,校準片標準片,探頭等,一直致力于為客戶提供有關Fischer產品的技術性支持和建議,并提供理想解決方案。
查看詳細介紹電解式測厚儀德國菲希爾/epk 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量,現在也適用于監控印刷線路板剩余純錫的厚度。使用 COULOSCOPE CMS2 和支架 V18 測量印刷線路板上剩余純錫的厚度
查看詳細介紹德國菲希爾袖珍式MP0涂層測厚儀 MP0涂層測厚儀采用根據DIN EN ISO 2360,ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2178,ASTM B499電磁感應方法,被用來測量非導電涂層在非鐵金屬基材上的厚度以及非鐵金屬鍍層和非導電涂層在鐵或鋼上的厚度。mpor涂層測厚儀能自動地識別被測材料并選擇適合的測試方法。
查看詳細介紹德國菲希爾IsoScope FMP10測厚儀 涂層測厚儀工作原理 涂層測厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。
查看詳細介紹IsoScope FMP10 測厚儀德國菲希爾代理 篤摯儀器為您提供種類規格齊全的便攜式物理測量儀器,這些產品來自世界廠商,使用*質的原材料制造,采用良好的技術,以滿足質量標準。
查看詳細介紹菲希爾Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀COULOSCOPE®CMS STEP除了與COULOSCOPE®CMS相對應的涂層厚度測量之外,COULOSCOPE®CMS STEP還提供了根據ASTM B764 - 94和DIN 50022進行STEP測試測量的功能.COULOSCOPE®CMS STEP非常適合測量 以簡單的標準符合方式,單個涂層厚度和多個鎳涂層的電位差 。
查看詳細介紹DualScope FMP20集成式涂層測厚儀 測量應用記憶體: ?多達100個測量應用的應用存儲器,包括 校準 ?內存多達20,000張讀數 ?將讀數分配到4,000個塊 ?塊的日期和時間戳 ?測量應用的通用歸一化/校準 ?通過標準測試測量驗證校正校準
查看詳細介紹DualScope MP0R 袖珍式涂鍍層測厚儀 MP0R涂層測厚儀根據功能不同分為PERMASCOPE® MP0R磁性,ISOSCOPE® MP0R渦流和DUALSCOPE® MP0R兩用型。
查看詳細介紹德國菲希爾DualScope MP0通用測厚儀 DUALSCOPE®MP0 采用廣受承認的Fischer探頭技術,是Z為小巧并能*滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結實耐用。對不復雜工件的現場測量尤為理想。內置探頭,由磁感應及電渦流方法,可快速無損地測量涂鍍層厚度。
查看詳細介紹Couloscope CMS2 STEP 庫侖法測厚儀 在電鍍行業中,對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度及電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求,德國Fischer庫倫測厚儀CouloScope CMS STEP正是應此而成功研制并大量應用。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。
查看詳細介紹Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀 Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統)使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統,該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
查看詳細介紹德國Fischer DUALSCOPE FMP40測厚儀 使用Fischer的智慧型測量探頭ED10,MP40會自動檢測出基體的材料并應用合適的測試方法:渦流法或電磁感應法。能自動識別不同的探頭。應用程式特定的校準參數儲存在測量探頭中,因此儀器一旦連接了任何探頭都能立即進行測量。
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