QNix4500/4200使用說明(圖文) 首先取出測(cè)厚儀, 按上兩個(gè)5號(hào)電池。裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),手腕扣住黑色繩子,大拇指和食指方便按住“手指握凹槽”確保儀器顯示屏和探頭垂直一條線 。儀器將自動(dòng)開機(jī)。
查看詳細(xì)介紹QNix4200一體式/分體式涂層測(cè)厚儀 QNix4200是一種特別小巧便利的涂層厚度計(jì),可直接插入微型探頭。為了靈活使用,微型探頭也可以連接到延長(zhǎng)電纜。QNix4200模塊化測(cè)量系統(tǒng)提供高達(dá)5000μm的移動(dòng)性,高測(cè)量精度,易于處理和不同尋常的應(yīng)用。
查看詳細(xì)介紹qnix4200/4500涂層測(cè)厚儀現(xiàn)* QNix4200為磁性測(cè)厚儀,可以用來測(cè)量鋼鐵等磁性基體上的涂鍍層; QNix4500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀,不僅可以用來測(cè)量鋼鐵等磁性基體,還可以用來測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層
查看詳細(xì)介紹qnix4500涂層測(cè)厚儀現(xiàn)貨,尼克斯測(cè)厚儀在測(cè)量汽車漆膜厚度,鋼板漆膜厚度等需要精密測(cè)量的場(chǎng)合,能夠做到精準(zhǔn)快速測(cè)量。
查看詳細(xì)介紹尼克斯4200測(cè)厚儀 QNix4200為磁性測(cè)厚儀,可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層;這兩個(gè)型號(hào)操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛。
查看詳細(xì)介紹qnix4200涂層測(cè)厚儀 (Fe 200mil) QNix4200 QNix4500厚度計(jì) QNix4200是一種磁性測(cè)厚儀,可用于測(cè)量鋼,鐵和其他磁性基材上的涂層。 QNix4500是一種電磁兼渦流測(cè)厚儀。 它不僅可以用于測(cè)量磁性基材,例如鋼, 它也可用于測(cè)量鋁,銅和不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層,氧化膜和磷化膜。
查看詳細(xì)介紹QNix4200-德國尼克斯涂層測(cè)厚儀操作說明書 篤摯儀器(上海)有限公司專業(yè)從事粗糙度儀、測(cè)厚儀QNix4200,探傷儀,硬度計(jì)、色差儀、測(cè)色計(jì)等計(jì)量室檢測(cè)設(shè)備的推廣銷售。為您提供QNix4200的操作說明書,開機(jī)、測(cè)量、維護(hù)及使用注意事項(xiàng)等,和簡(jiǎn)單的產(chǎn)品信息。
查看詳細(xì)介紹QNix4500 QNix4200油漆干膜測(cè)厚儀使用說明 儀器使用: 1.開機(jī): 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),儀器將 自動(dòng)開機(jī)。(使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭
查看詳細(xì)介紹QNix4200/4500尼克斯全能型涂鍍層測(cè)厚儀 QNix4200/4500系列儀器范圍內(nèi)備受追捧,被認(rèn)為是涂層測(cè)厚儀中的“全能型”。QNix4200/4500是飽受贊譽(yù),易于使用的高品質(zhì)手持式儀表,適用于廣泛的應(yīng)用 - 特別是在汽車領(lǐng)域,鞏固了他們*的“德國制造”光環(huán)。
查看詳細(xì)介紹*德國尼克斯QNix4200測(cè)厚儀 篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
查看詳細(xì)介紹測(cè)厚儀尼克斯上海篤摯儀器供給QNix 4200涂層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚原理,0~1250μm量程,精度±3%,WH-81涂層測(cè)厚儀是一體式探頭的測(cè)厚儀,另有鐵鋁雙基型號(hào)可供選擇
查看詳細(xì)介紹涂層測(cè)厚儀尼克斯篤摯供應(yīng) 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE); 具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL); 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV) 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;
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